電磁兼容預(yù)測(cè)試與鑒定測(cè)試怎么做？

一個(gè)產(chǎn)品電磁兼容EMC的評(píng)價(jià)最終歸結(jié)為是否復(fù)合相應(yīng)的電磁兼容EMC標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)施這種評(píng)價(jià)成為電磁兼容EMC鑒定測(cè)試，這種測(cè)試只能由少數(shù)國(guó)家認(rèn)可的檢測(cè)中心進(jìn)行，它們配備了嚴(yán)格復(fù)合電磁兼容EMC標(biāo)準(zhǔn)的儀表和設(shè)施，由經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員按完善的質(zhì)量保證體系進(jìn)行公證性測(cè)試。它是在一個(gè)產(chǎn)品投放市場(chǎng)前的最后階段完成的。

　　其實(shí)，按照一個(gè)產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)全過(guò)程種所需要的電磁兼容EMC測(cè)試量而言，鑒定測(cè)試只占了不到10%，90%的測(cè)試工作量是在此前完成的，包括準(zhǔn)電路的板卡、原理樣機(jī)、初樣到正樣研制的過(guò)程中，通過(guò)不斷的EMC測(cè)試逐步實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品良好的電磁兼容性。我們將這90%的測(cè)試工作總稱(chēng)為電磁兼容EMC預(yù)測(cè)試。

一般的說(shuō)，預(yù)測(cè)試系統(tǒng)與鑒定測(cè)試系統(tǒng)的不同點(diǎn)如下：

　　1)預(yù)測(cè)試的屏蔽半暗室尺寸可以小一些，只要能容納本企業(yè)產(chǎn)品，另外再留一些余量即可。暗室的歸一化場(chǎng)地衰減NSA 和場(chǎng)均勻性?xún)身?xiàng)指標(biāo)可比鑒定測(cè)試的暗室稍微低一些。因此，暗室的環(huán)境水平可以允許稍高些。

　　2)EMC測(cè)試項(xiàng)目可在標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上作必要的剪裁，一個(gè)檢測(cè)中心應(yīng)該具備按EMC標(biāo)準(zhǔn)的各個(gè)項(xiàng)目測(cè)試的能力，一個(gè)企業(yè)的預(yù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室可以首先保證自己產(chǎn)品不易通過(guò)的項(xiàng)目的測(cè)試，其中，在儀表的頻率方位上作合理的剪裁往往可以明顯降低建設(shè)費(fèi)用。

　　3)測(cè)試儀表在保證必需的精度的同時(shí)，縮短測(cè)量時(shí)間是一個(gè)不可忽視的因素，如采用頻譜分析儀可以保證與EMI接收機(jī)有相似的精度，又可顯著提高測(cè)量速度，而且價(jià)格不足EMI接收機(jī)的一半，因此預(yù)測(cè)試常采用頻譜分析儀代替EMI接收機(jī)。

解決這些問(wèn)題的最好方法就是EMC預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，如果該單位具有自己的預(yù)測(cè)試手段，將帶來(lái)以下好處

　　1)避免完全依賴(lài)后期的成敗型檢測(cè)

　　2)論證研制階段提出EMC設(shè)計(jì)思想及措施

　　3)大幅度提高產(chǎn)品一次性通過(guò)認(rèn)證測(cè)試的幾率

　　4)測(cè)試周期大大縮短。

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