高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試流程及判斷標(biāo)準(zhǔn)

高低溫試驗(yàn)箱

高低溫試驗(yàn)箱具有良好的保溫性能，箱室上頂面裝有鼓風(fēng)機(jī)，配以箱內(nèi)風(fēng)道，使箱內(nèi)熱空氣有規(guī)律循環(huán)，從而提高了箱內(nèi)溫度均勻度。電加熱器密封式管狀形狀，以防露熱絲和低著火點(diǎn)氣體直接接觸而發(fā)生事故。

高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試流程：

1·當(dāng)樣品斷電時(shí)，首先將溫度降至-50℃，保持4小時(shí)樣品上電時(shí)不進(jìn)行低溫測(cè)試非常重要，因?yàn)樾酒旧砩想姇r(shí)溫度會(huì)高于+20℃，所以通常上電時(shí)更容易通過低溫測(cè)試，所以必須先“凍透”，再重新上電進(jìn)行測(cè)試。

2.啟動(dòng)機(jī)器，測(cè)試樣品的性能，與常溫相比性能是否正常。

3.進(jìn)行老化測(cè)試，看是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

4.將溫度升至+90℃，并保持4小時(shí)。與低溫測(cè)試是相反的，芯片內(nèi)部溫度要保持在高溫狀態(tài)，加熱過程中不斷電。在4小時(shí)之后，執(zhí)行測(cè)試步驟2、3和4。

5.高溫和低溫試驗(yàn)分別要重復(fù)10次。

如果測(cè)試過程在任何時(shí)候都不能正常工作，就被認(rèn)為是測(cè)試失敗。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

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JUN用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 3 部分：高溫試驗(yàn) GJb150.3A-2009

JUN用通信設(shè)備通用規(guī)范GJb 367A-2001JUN用計(jì)算機(jī)通用規(guī)范 GJb 322A-1998

JUN用電子測(cè)試設(shè)備通用規(guī)范 GJb 3947A-2009艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn) GJb 4.2-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn) GJb4.3-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn) GJb 4.4-1983技術(shù)偵察裝備通用技術(shù)要求 第 7 部分：環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗(yàn)方法 GJb 1621.7A-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫 GB/T 2423.1-2008

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