本文系統(tǒng)介紹焊點(diǎn)防腐測(cè)試的技術(shù)原理、核心項(xiàng)目(如鹽霧試驗(yàn)、濕熱老化、混合氣體腐蝕、電化學(xué)遷移測(cè)試等)、適用標(biāo)準(zhǔn)及典型失效模式,并結(jié)合CNAS國(guó)家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室的專業(yè)能力,為您提供從材料評(píng)估到工藝優(yōu)化的一站式解決方案,助力企業(yè)提升PCBA防護(hù)等級(jí),打造真正耐久可靠的電子產(chǎn)品。
一個(gè)微小的焊點(diǎn),可能引發(fā)一場(chǎng)系統(tǒng)的崩潰。
一次科學(xué)的防腐測(cè)試,勝過千次僥幸的運(yùn)行。
一、為什么必須重視焊點(diǎn)防腐?
焊點(diǎn)作為SMT(表面貼裝技術(shù))中最關(guān)鍵的互連結(jié)構(gòu),承擔(dān)著:
電氣導(dǎo)通(電流傳輸)
機(jī)械固定(元器件錨定)
熱量傳遞(散熱路徑)
但在復(fù)雜環(huán)境中,它也是最脆弱的環(huán)節(jié)之一。常見的焊點(diǎn)腐蝕機(jī)制包括:
| 腐蝕類型 | 成因 | 后果 |
|---|---|---|
| 電化學(xué)遷移(ECM) | 濕氣+偏壓+離子污染物 → 形成枝晶短路 | 功能異常、漏電、起火風(fēng)險(xiǎn) |
| 錫須生長(zhǎng)(Whisker) | 純錫鍍層內(nèi)部應(yīng)力釋放 → 長(zhǎng)出金屬細(xì)絲 | 引發(fā)微短路或繼電器卡滯 |
| 銅/鎳腐蝕 | 氯離子、硫化物侵蝕底層金屬 | 焊盤剝離、連接失效 |
| 焊點(diǎn)疲勞開裂 | 溫度循環(huán)+振動(dòng) → CTE失配產(chǎn)生剪切應(yīng)力 | 間歇性斷路,難以定位 |
這些問題往往具有“潛伏期長(zhǎng)、突發(fā)性強(qiáng)”的特點(diǎn),一旦在客戶端爆發(fā),將帶來巨額售后成本與品牌信任危機(jī)。
因此,開展專業(yè)的焊點(diǎn)防腐測(cè)試,已成為高端電子制造企業(yè)質(zhì)量管控的必選項(xiàng)。
二、焊點(diǎn)防腐測(cè)試的核心項(xiàng)目
我們依據(jù)IEC、IPC、J-STD、GB/T等國(guó)際國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),提供覆蓋多場(chǎng)景的焊點(diǎn)耐腐蝕性驗(yàn)證服務(wù):
? 1. 鹽霧腐蝕試驗(yàn)(Salt Spray Test)
模擬沿海、工業(yè)區(qū)或除冰鹽環(huán)境下的氯離子侵蝕。
測(cè)試類型:中性鹽霧(NSS)、酸性鹽霧(ASS)、銅加速乙酸鹽霧(CASS)
標(biāo)準(zhǔn)參考:GB/T 2423.17、ISO 9227、ASTM B117
適用對(duì)象:未三防處理的PCBA、連接器焊點(diǎn)、端子區(qū)域
觀察重點(diǎn):焊點(diǎn)變色、氧化、腐蝕產(chǎn)物生成、電性能漂移
?? 建議周期:24h / 48h / 96h / 500h(根據(jù)防護(hù)等級(jí)設(shè)定)
? 2. 恒定濕熱與交變濕熱試驗(yàn)
評(píng)估濕氣滲透對(duì)焊點(diǎn)界面的影響,常用于驗(yàn)證助焊劑殘留與封裝密封性。
恒定濕熱(TH):85℃/85%RH,持續(xù)1000小時(shí)
交變濕熱(DHT):溫濕度循環(huán)(如 -40℃?85℃, 30%?95%RH)
標(biāo)準(zhǔn)參考:GB/T 2423.3(恒定)、GB/T 2423.4(交變)、JEDEC JESD22-A101
檢測(cè)手段:絕緣電阻監(jiān)測(cè)、曲線追蹤儀、紅外熱成像
?? 典型問題:吸濕后焊點(diǎn)周圍出現(xiàn)漏電通道,引發(fā)低阻短路。
? 3. 混合氣體腐蝕試驗(yàn)(Mixed Flowing Gas, MFG)
模擬工業(yè)大氣中SO?、H?S、NO?、Cl?等腐蝕性氣體對(duì)貴金屬焊點(diǎn)的侵蝕。
氣體組合可調(diào):低濃度(ppm級(jí))精確控制
溫度/濕度同步控制
標(biāo)準(zhǔn)參考:IEC 60068-2-60、ANSI/ISA 71.04
適用場(chǎng)景:數(shù)據(jù)中心服務(wù)器、電力監(jiān)控設(shè)備、石化控制系統(tǒng)
?? 分析重點(diǎn):金線鍵合點(diǎn)腐蝕、銅底座硫化、焊球黑焊盤(Black Pad)現(xiàn)象
? 4. 電化學(xué)遷移(ECM)測(cè)試
專門評(píng)估在潮濕環(huán)境下,離子污染物是否會(huì)導(dǎo)致相鄰導(dǎo)體間形成導(dǎo)電陽極絲(Dendrite)。
測(cè)試結(jié)構(gòu):梳狀電極圖案(Interdigitated Test Pattern)
施加偏壓:DC 5~100V,持續(xù)監(jiān)測(cè)漏電流變化
標(biāo)準(zhǔn)參考:IPC-TM-650 2.6.25、JESD22-A121
判定指標(biāo):絕緣電阻下降速率、漏電流突增、短路時(shí)間
?? 特別適用于高密度PCB、細(xì)間距器件(如01005、CSP封裝)
? 5. 三防漆涂層完整性與附著力測(cè)試
對(duì)于已噴涂三防漆的產(chǎn)品,需驗(yàn)證其是否有效隔離濕氣與污染物。
測(cè)試項(xiàng)目:
劃格法附著力測(cè)試(ISO 2409)
冷熱沖擊后涂層開裂檢查
鹽霧后漆下腐蝕評(píng)估
配套分析:SAM超聲掃描顯微鏡檢測(cè)漆層下分層
三、我們的測(cè)試能力與技術(shù)優(yōu)勢(shì)
作為CNAS中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室,我們配備先進(jìn)的環(huán)境模擬設(shè)備與微觀分析平臺(tái),致力于為企業(yè)提供權(quán)威、精準(zhǔn)、可追溯的焊點(diǎn)防腐測(cè)試服務(wù)。
? 核心設(shè)備清單
| 設(shè)備名稱 | 技術(shù)能力 |
|---|---|
| 鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱 | 支持NSS/ASS/CASS模式,自動(dòng)排霧凈化 |
| 高精度恒溫恒濕箱 | ±0.3℃溫度精度,±2%RH濕度控制 |
| MFG混合氣體腐蝕艙 | 四種氣體獨(dú)立控制,流量精準(zhǔn)調(diào)節(jié) |
| 絕緣電阻在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) | μA級(jí)漏電流采集,支持多通道并行 |
| SAM超聲掃描顯微鏡 | 無損檢測(cè)焊點(diǎn)空洞、分層、裂紋 |
| SEM+EDS掃描電鏡 | 微觀形貌觀察與元素成分分析 |
? 支持標(biāo)準(zhǔn)廣泛
IPC-J-STD-001(焊接要求)
IPC-TM-650(測(cè)試方法)
IEC 60068 系列(環(huán)境試驗(yàn))
GB/T 2423(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn))
MIL-STD-883H(微電子器件試驗(yàn)方法)
? 服務(wù)流程閉環(huán)
咨詢 → 方案制定 → 送樣測(cè)試 → 數(shù)據(jù)采集 → 失效分析 → 改進(jìn)建議 → 報(bào)告出具
四、真實(shí)案例分享:一次測(cè)試避免批量退貨
?? 案例背景
某工業(yè)控制器出口歐洲,在客戶現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行半年后,多臺(tái)設(shè)備出現(xiàn)“偶發(fā)重啟”現(xiàn)象。返廠檢查發(fā)現(xiàn)主控芯片附近存在輕微腐蝕痕跡。
?? 我們的介入
開展85℃/85%RH + 20V偏壓條件下1000小時(shí)濕熱老化測(cè)試
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)相鄰走線間的絕緣電阻
測(cè)試至720小時(shí)時(shí),漏電流驟升10倍
SAM掃描發(fā)現(xiàn)BGA焊點(diǎn)下方局部分層
SEM分析確認(rèn)為助焊劑殘留+吸濕→電化學(xué)遷移
?? 改進(jìn)建議
優(yōu)化清洗工藝,引入離子污染度測(cè)試(ROSE Test)
在高壓區(qū)域增加保形涂覆(Conformal Coating)
更換低離子活性助焊劑型號(hào)
?? 客戶采納建議后重新投板,再次測(cè)試通過全部項(xiàng)目,產(chǎn)品順利恢復(fù)供貨。
五、如何提升焊點(diǎn)防腐能力?設(shè)計(jì)與工藝建議
| 風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn) | 改進(jìn)措施 |
|---|---|
| 助焊劑殘留 | 加強(qiáng)清洗工藝,定期做ROSE測(cè)試(<1.5μg NaCl/cm2) |
| 濕氣侵入 | 使用低吸濕性基材(如FR-4 High Tg)、加強(qiáng)密封設(shè)計(jì) |
| 電化學(xué)遷移 | 增大導(dǎo)體間距、降低工作電壓、施加三防漆 |
| 錫須風(fēng)險(xiǎn) | 避免使用純錫鍍層,推薦SnAg、SnBi或Ni/Au表面處理 |
| 溫度循環(huán)疲勞 | 優(yōu)化焊料合金(如SAC305)、采用底部填充膠(Underfill) |
我們可提供《PCBA可制造性與可靠性設(shè)計(jì)(DFR)評(píng)審報(bào)告》,幫助客戶從源頭規(guī)避風(fēng)險(xiǎn)。
六、結(jié)語:每一個(gè)焊點(diǎn),都值得被認(rèn)真對(duì)待
在這個(gè)追求“零缺陷、長(zhǎng)壽命”的時(shí)代,電子產(chǎn)品的可靠性不再僅由功能決定,更取決于那些看不見的細(xì)節(jié)——比如一個(gè)直徑不足1mm的焊點(diǎn)。
我們始終堅(jiān)信:
真正的高質(zhì)量,是讓產(chǎn)品在十年后依然穩(wěn)定運(yùn)行。
通過科學(xué)的焊點(diǎn)防腐測(cè)試,我們幫助企業(yè)把風(fēng)險(xiǎn)擋在出廠之前,把信任傳遞給每一位用戶。
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- 溫濕度循環(huán)協(xié)同測(cè)試:科學(xué)評(píng)估產(chǎn)品在熱帶氣候中的長(zhǎng)期性能變化規(guī)律
- 防沙塵IP6X密封性測(cè)試:驗(yàn)證高粉塵環(huán)境下產(chǎn)品完全防塵的防護(hù)能力
- 跌落與振動(dòng)協(xié)同模擬:精準(zhǔn)預(yù)測(cè)產(chǎn)品在復(fù)雜物流環(huán)境中的綜合損傷風(fēng)險(xiǎn)
- 包裝堆碼極限強(qiáng)度測(cè)試:確定多層運(yùn)輸堆疊時(shí)的包裝安全承載邊界
- 溫度驟變加速測(cè)試:模擬產(chǎn)品在極端溫差環(huán)境下的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性與性能衰減
- 溫度循環(huán)加速老化測(cè)試:預(yù)測(cè)產(chǎn)品在頻繁溫變環(huán)境中的性能衰減規(guī)律
- 振動(dòng)與沖擊聯(lián)合測(cè)試:模擬運(yùn)輸過程中的復(fù)合應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品的損傷機(jī)制
- 多角度跌落模擬測(cè)試:精準(zhǔn)評(píng)估產(chǎn)品在意外跌落場(chǎng)景中的失效風(fēng)險(xiǎn)
- 運(yùn)輸包裝抗沖擊測(cè)試:確保產(chǎn)品在物流環(huán)節(jié)中的安全抵達(dá)與結(jié)構(gòu)完整性
- 冷熱沖擊 vs 溫度循環(huán):熱疲勞機(jī)制有何不同?



