我們始終堅(jiān)持以“十年如一日”的品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)打造每一款產(chǎn)品。基于多年研發(fā)實(shí)踐與全球用戶反饋,我們總結(jié)出消費(fèi)電子產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證的十大核心測試項(xiàng)目,涵蓋環(huán)境耐受、機(jī)械強(qiáng)度、電氣安全與長期穩(wěn)定性等多個(gè)維度。其中,鹽霧測試、跌落測試、溫度循環(huán)測試、靜電防護(hù)(ESD)測試與老化測試作為五大關(guān)鍵環(huán)節(jié),構(gòu)成了產(chǎn)品耐用性的基石。
本文將深入解析這五項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),并全面呈現(xiàn)其余五項(xiàng)不可或缺的測試內(nèi)容,帶您走進(jìn)實(shí)驗(yàn)室背后的品質(zhì)真相。
一、鹽霧測試:抵御腐蝕,守護(hù)金屬部件的生命線
為什么重要?
人體汗液、沿海高鹽空氣、潮濕環(huán)境中的電解質(zhì)都會對設(shè)備金屬結(jié)構(gòu)造成腐蝕風(fēng)險(xiǎn),尤其影響充電觸點(diǎn)、螺絲、邊框接縫等部位,嚴(yán)重時(shí)可導(dǎo)致接觸不良、信號中斷甚至短路。
測試標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù) ISO 9227 / GB/T 2423.17 / ASTM B117 等國際規(guī)范,采用5%氯化鈉溶液,在35℃恒溫下連續(xù)噴霧48–168小時(shí),模擬高濕高鹽環(huán)境。
測試重點(diǎn):
表面是否出現(xiàn)銹斑、變色、起泡;
金屬件電導(dǎo)率變化;
涂層附著力(百格測試);
密封結(jié)構(gòu)防滲透能力。
技術(shù)應(yīng)對:
關(guān)鍵金屬部件采用不銹鋼316L或鈦合金材質(zhì);
充電觸點(diǎn)加鍍金層(Au≥0.5μm),提升抗氧化性;
外殼縫隙采用IP68級密封設(shè)計(jì),阻隔鹽霧侵入。
? 目標(biāo):歷經(jīng)168小時(shí)鹽霧考驗(yàn),無功能性退化,外觀評級達(dá)9級以上(滿分10)。
二、跌落測試:從桌面到地面,錘煉抗沖擊能力
為什么重要?
據(jù)統(tǒng)計(jì),超過60%的消費(fèi)電子故障源于意外跌落。一次看似輕微的滑落,可能造成屏幕碎裂、內(nèi)部元器件松動、電池移位等問題。
測試標(biāo)準(zhǔn):
遵循 IEC 60068-2-32 自由跌落規(guī)范,高度設(shè)定為1.0–1.5米,跌落面為鋼板,覆蓋正面、背面、四角、邊緣共6–10個(gè)方向,每面不少于3次。
測試流程:
跌落后立即進(jìn)行外觀檢查、觸控響應(yīng)、攝像頭成像、傳感器校準(zhǔn)、無線連接等功能檢測;
高端機(jī)型額外增加“斜角沖擊”與“重復(fù)跌落”測試。
結(jié)構(gòu)優(yōu)化:
采用航空級鋁合金框架+緩沖膠墊雙重保護(hù);
屏幕使用康寧?大猩猩玻璃 Victus? 或藍(lán)寶石晶體蓋板;
內(nèi)部關(guān)鍵芯片通過點(diǎn)膠固定,防止脫落。
? 目標(biāo):1.2米自由跌落10次后,仍能正常開機(jī),無結(jié)構(gòu)性損傷。
三、溫度循環(huán)測試:穿越冷熱交替,驗(yàn)證材料穩(wěn)定性
為什么重要?
設(shè)備常在空調(diào)房與戶外烈日間切換,劇烈溫變會導(dǎo)致材料膨脹收縮不均,引發(fā)開裂、脫膠、焊點(diǎn)疲勞、顯示異常等問題。
測試標(biāo)準(zhǔn):
執(zhí)行 IEC 60068-2-14 (Test Na),在-40℃至+85℃之間循環(huán)變化,每個(gè)周期2小時(shí)(升溫/降溫速率≥10℃/min),總循環(huán)次數(shù)達(dá)50–100次。
監(jiān)測指標(biāo):
外殼是否變形、開裂;
顯示屏有無黑斑、閃屏;
電池容量衰減情況;
PCB焊點(diǎn)顯微分析(X-ray檢測虛焊、裂紋)。
設(shè)計(jì)對策:
使用低熱膨脹系數(shù)材料(如LCP液晶聚合物);
PCB布局優(yōu)化,避免應(yīng)力集中;
增加導(dǎo)熱硅脂與緩沖墊片,平衡熱傳導(dǎo)與形變。
? 目標(biāo):經(jīng)歷100次極端溫變循環(huán),功能完好,無可見缺陷。
四、靜電防護(hù)(ESD)測試:抵御“看不見的閃電”
為什么重要?
人體靜電可達(dá)上萬伏,在干燥環(huán)境中觸摸設(shè)備極易引發(fā)靜電放電(ESD),輕則導(dǎo)致系統(tǒng)重啟、死機(jī),重則損壞敏感電路。
測試標(biāo)準(zhǔn):
符合 IEC 61000-4-2 Level 4(接觸放電±8kV,空氣放電±15kV),在低溫低濕環(huán)境下進(jìn)行多點(diǎn)放電測試。
測試位置:
USB接口、按鍵、屏幕邊緣、SIM卡托、揚(yáng)聲器孔等所有暴露導(dǎo)體區(qū)域。
防護(hù)機(jī)制:
集成TVS瞬態(tài)抑制二極管與濾波電路;
外殼接地路徑優(yōu)化,快速泄放電荷;
觸控IC支持ESD自恢復(fù)算法。
? 目標(biāo):承受150次高壓靜電沖擊,系統(tǒng)自動恢復(fù),無永久性損傷。
五、老化測試:預(yù)見未來,提前驗(yàn)證壽命極限
為什么重要?
用戶期望設(shè)備至少使用3–5年。老化測試通過加速時(shí)間進(jìn)程,預(yù)判產(chǎn)品在長期使用后的性能表現(xiàn)。
測試類型:
高溫老化(Burn-in Test):在+60℃環(huán)境下滿負(fù)荷運(yùn)行72小時(shí),篩選早期失效元器件;
功能老化:連續(xù)播放視頻、刷新界面、啟停應(yīng)用7天以上,驗(yàn)證系統(tǒng)穩(wěn)定性;
電池循環(huán)老化:完成500–1000次充放電,評估容量保持率(目標(biāo)≥80%)。
數(shù)據(jù)分析:
記錄功耗變化、發(fā)熱趨勢、響應(yīng)延遲;
建立壽命預(yù)測模型,指導(dǎo)材料選型與散熱設(shè)計(jì)。
? 目標(biāo):等效現(xiàn)實(shí)使用3年,核心功能零衰退。
六至十:其他五大關(guān)鍵測試項(xiàng)補(bǔ)充
除上述五項(xiàng)核心測試外,以下五項(xiàng)同樣不可或缺:
六、振動測試(Vibration Test)
模擬運(yùn)輸、騎行、車載等持續(xù)震動場景,頻率范圍5–500Hz,加速度達(dá)20g,確保內(nèi)部結(jié)構(gòu)穩(wěn)固。
七、濕度儲存測試(Damp Heat Storage)
在+40℃/93%RH環(huán)境下存放168小時(shí),檢驗(yàn)防潮密封性能,防止霉變與漏電。
八、按鍵壽命測試(Keypress Endurance)
機(jī)械按鍵需經(jīng)受100萬次按壓測試,確保手感一致、回彈可靠。
九、UV紫外老化測試
模擬陽光直射,驗(yàn)證外殼與表帶材料是否黃變、脆化,尤其適用于戶外穿戴設(shè)備。
十、包裝跌落與運(yùn)輸模擬
整機(jī)帶包裝從70cm–1.2m高度跌落,模擬物流運(yùn)輸中的粗暴搬運(yùn),保障“開箱即用”。
我們的承諾:把99%的風(fēng)險(xiǎn)留在實(shí)驗(yàn)室
每一款產(chǎn)品上市前,都必須通過這十大可靠性測試關(guān)卡。我們投入億元級建設(shè)綜合性環(huán)境實(shí)驗(yàn)室,配備鹽霧箱、三綜合試驗(yàn)臺(溫度+濕度+振動)、ESD發(fā)生器、高低溫循環(huán)艙、自動化點(diǎn)擊機(jī)器人等先進(jìn)設(shè)備,并組建專業(yè)可靠性工程團(tuán)隊(duì),實(shí)行“測試-失效-改進(jìn)-再驗(yàn)證”的閉環(huán)管理。
更重要的是,我們將真實(shí)用戶場景作為最終評判標(biāo)準(zhǔn):
在海南測試抗鹽霧能力;
在新疆驗(yàn)證高溫穩(wěn)定性;
在東北極寒環(huán)境中檢驗(yàn)低溫啟動性能;
邀請廚師、司機(jī)、運(yùn)動員等典型用戶參與實(shí)地佩戴與操作反饋。
結(jié)語:可靠,是智能時(shí)代最稀缺的奢侈品
在這個(gè)追求“更快更新”的時(shí)代,我們選擇慢下來,用時(shí)間和數(shù)據(jù)打磨每一份細(xì)節(jié)。
因?yàn)檎嬲母叨?,不在于參?shù)有多亮眼,而在于當(dāng)你三年后拿起它時(shí),依然能流暢點(diǎn)亮、準(zhǔn)確響應(yīng)、安心使用。
鹽霧不蝕,跌落不傷,冷熱無懼,靜電不擾,歲月不留痕——
這就是我們對“可靠”的定義。
我們堅(jiān)信:
最好的科技,從不需要小心翼翼地對待。
—— 讓每一次使用,都像第一次那樣安心。
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